Kvantifikacija skeniranih kromatograma u tankoslojnoj kromatografiji

Sažetak

U radu je predstavljen razvoj metode za kvantitativnu procjenu pločica s tankoslojnom kromatografijom (TK, engl. thin-layer chromatography, TLC) pomoću standardnog skenera i primjenom programa MATLAB s Image Processing Toolboxom. Razvijeni program je korišten za kvantificiranje slike u boji razvijene pločice nakon tankoslojne kromatografije koja je zatim pretvorena u sivu skalu (engl. gray scale) s 256 razina. Nakon toga određen je prag (engl. threshold) kako bi se slika pretvorila u crno-bijelu. Na taj način su utvrđene površina, granice i koordinate svih mrlja na pločici. Izračunata je gustoća vrijednosti sive skale za površinu svakog objekta. Eksperimenti su pokazali da su dobiveni rezultati površine i gustoće vrijednosti sive skale mrlja razmjerne koncentraciji vrijednosti analita, te linearno pokrivaju velik raspon koncentracija između izlaza programa i koncentracije modela iona. Kao uzorci modela kvantificirano je nekoliko različitih metalnih iona (kobalt, krom i bakar) na celuloznom sloju s praktičnim granicama pogreške od 1 do 2 %. Osim toga, preciznost između i unutar pločica (engl. inter and intra plate precision), ponovljivost, relativno standardno odstupanje (engl. relative standard deviation, RSD) i linearnost određeni su za sve metalne ione za pravilne i nepravilne oblike mrlja.